[发明专利]单粒子瞬态电流脉冲检测系统无效
| 申请号： | 201110457712.2 | 申请日： | 2011-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN102565545A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 梅博;毕津顺;韩郑生;罗家俊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R29/02 | 分类号： | G01R29/02 |
| 代理公司： | 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 | 代理人： | 朱海波 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量单粒子瞬态电流脉冲的系统，包括辐照装置，用于对器件的待测区域进行辐照；示波器，用于捕获单粒子脉冲电流信号。通过本发明的方法和设备，可以捕获初始单粒子瞬态电流脉冲波形，直观地测量单粒子电流脉冲的上升时间、脉冲宽度、脉冲幅度等参数。而且可以进一步通过单粒子瞬态电流脉冲的波形分析表征电路的节点状态，获取单粒子电流脉冲在具体电路中的宽度分布，得到电路抗单粒子辐射的加固依据。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 瞬态 电流 脉冲 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种测量单粒子瞬态电流脉冲的系统，包括：辐照装置，用于对器件的待测区域进行辐照；示波器，用于捕获单粒子脉冲电流信号。
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