[发明专利]硬盘性能的测试方法和装置有效

专利信息
申请号: 201110456279.0 申请日: 2011-12-31
公开(公告)号: CN102568522A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 赵雷;刘建锋;刘流 申请(专利权)人: 曙光信息产业股份有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 北京德恒律师事务所 11306 代理人: 陆鑫;房岭梅
地址: 300384 天津市西青区华*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种硬盘性能的测试方法和装置,其中,该方法包括:获取需要测试的至少一个硬盘的参数信息;在预先配置的测试环境下对硬盘进行测试,读取测试得到的测试结果、参数信息以及硬盘所在计算机的系统参数信息;根据读取的参数信息、测试结果以及计算机的系统参数信息判断硬盘的性能是否正常。本发明通过获取硬盘的参数信息和系统信息,并根据该参数信息和系统信息判断实际测得的硬盘性能是否正常,能够实现硬盘的自动化测试,提高测试的效率,同时保证测试的准确性。
搜索关键词: 硬盘 性能 测试 方法 装置
【主权项】:
一种硬盘性能的测试方法,其特征在于,包括:获取需要测试的至少一个硬盘的参数信息;在预先配置的测试环境下对所述硬盘进行测试,读取测试得到的测试结果、所述参数信息以及所述硬盘所在计算机的系统参数信息;根据读取的所述参数信息、所述测试结果以及所述计算机的系统参数信息判断所述硬盘的性能是否正常。
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