[发明专利]一种显卡测试方法及测试系统有效
申请号: | 201110455264.2 | 申请日: | 2011-12-30 |
公开(公告)号: | CN102567166A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 付卿峰 | 申请(专利权)人: | 曙光信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人: | 陆鑫;房岭梅 |
地址: | 300384 天津市西青区华*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种显卡测试方法,其中至少一块显卡安装于计算机内,所述方法包括:根据接收到的性能测试指令触发对所述显卡的性能测试;根据预先设定的性能测试规范对所述显卡进行性能测试,其中,所述性能测试包括:对所述显卡进行带宽测试,对所述显卡进行3D性能测试,和对所述显卡进行OpenGL接口性能测试;以及获取对所述显卡进行性能测试获得的性能测试数据并存储以便计算机系统根据所述性能测试数据分析所述显卡的性能。本发明还公开了一种显卡测试系统。采用本发明,可以很好地评判不同应用领域下的不同型号的显卡的功能。 | ||
搜索关键词: | 一种 显卡 测试 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种显卡测试方法,其中至少一块显卡安装于计算机内,所述方法包括:根据接收到的性能测试指令触发对所述显卡的性能测试;根据预先设定的性能测试规范对所述显卡进行性能测试,其中,所述性能测试包括:对所述显卡进行带宽测试,对所述显卡进行3D性能测试,和对所述显卡进行OpenGL接口性能测试;获取对所述显卡进行性能测试获得的性能测试数据并存储以便计算机系统根据所述性能测试数据分析所述显卡的性能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于曙光信息产业股份有限公司,未经曙光信息产业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110455264.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:堆叠式半导体封装结构及其制造方法
- 下一篇:处理盒和图像形成设备