[发明专利]一种系统测试的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201110451995.X 申请日: 2011-12-29
公开(公告)号: CN103186456A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 孙冬梅;韩翠平;姬丽 申请(专利权)人: 北京新媒传信科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝
地址: 100089 北京市海淀区万*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种系统测试的方法和装置,所述方法包括初次测试时,建立功能模块与测试用例间的映射,指示待测试系统执行测试用例,获得待测试系统的缺陷,建立测试用例与缺陷间的映射,确定各功能模块包括的缺陷,获得初次测试结果;在进行后期测试时,将上次测试中缺陷映射的测试用例添加到本次后期测试的测试用例集合中,指示新版本的待测试系统执行测试用例集合中的测试用例,获得新版本的待测试系统的缺陷,建立缺陷与测试用例间的映射,依据功能模块与测试用例间的映射和测试用例与缺陷间的映射,确定新版本的待测试系统中各功能模块包括的缺陷,获得本次后期测试的测试结果。本发明能够解决测试中耗费时间和成本过高的问题。
搜索关键词: 一种 系统 测试 方法 装置
【主权项】:
一种系统测试的方法,其特征在于,初次测试时,读取功能文档,导入待测试系统的功能模块的信息,根据功能模块的信息生成所述功能模块对应的测试用例,建立所述功能模块与所述测试用例间的映射,指示待测试系统执行所述测试用例,获得待测试系统的缺陷,建立测试用例与缺陷间的映射,依据功能模块与测试用例间的映射和测试用例与缺陷间的映射,确定各功能模块包括的缺陷,获得初次测试结果;所述方法还包括:步骤1,在进行后期测试时,将上次测试中缺陷映射的测试用例添加到本次后期测试的测试用例集合中;步骤2,指示新版本的待测试系统执行所述测试用例集合中的测试用例,获得新版本的待测试系统的缺陷,建立所述缺陷与测试用例间的映射;步骤3,依据功能模块与测试用例间的映射和测试用例与缺陷间的映射,确定新版本的待测试系统中各功能模块包括的缺陷,获得本次后期测试的测试结果。
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