[发明专利]一种试验参数获取方法和装置有效
| 申请号： | 201110431641.9 | 申请日： | 2011-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN103176060A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 刘若鹏;季春霖;刘斌 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种试验参数获取方法和装置，该方法包括：根据超材料单元结构体的结构特点选取结构体的结构参数和所述结构参数的参数水平；基于均匀试验设计策略获取对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量时所使用的均匀试验点组；根据所述均匀试验点组将所述试验区域划分为多个局部试验分区；在所述多个局部试验分区内分别对所述结构参数进行随机采样，获得对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的随机试验点组；将所述均匀试验点组和随机试验电组作为对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的实际试验点组。采用本发明，可以获得合适的试验组进行电磁特性测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 试验 参数 获取 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种试验参数获取方法，其特征在于，所述方法包括：根据超材料单元结构体的结构特点选取结构体的结构参数和所述结构参数的参数水平；根据所述结构参数和所述参数水平基于均匀试验设计策略获取对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量时所使用的均匀试验点组；根据所述均匀试验点组将所述试验区域划分为多个局部试验分区，其中，所述试验区域为根据所述均匀试验点组中的试验点划分的囊括了所述结构参数的参数水平的所有随机组合形成的试验点的区域；在所述多个局部试验分区内分别对所述结构参数进行随机采样，获得对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的随机试验点组；将所述均匀试验点组和随机试验电组作为对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的实际试验点组，以便按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测量。
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