[发明专利]光学式位置检测装置以及带位置检测功能的设备无效
| 申请号： | 201110415425.5 | 申请日： | 2011-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN102541363A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 大西康宪 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/042 | 分类号： | G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟;王轶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及光学式位置检测装置以及带位置检测功能的设备。该光学式位置检测装置用于检测对象物体的位置，具有：射出检测光的多个检测用光源；驱动该多个检测用光源的光源驱动部；第一受光部，其接受由位于上述检测光的出射空间的上述对象物体反射的上述检测光；补偿用光源部，其射出不向上述出射空间入射的补偿光；第二受光部，其不接受上述检测光而接受上述补偿光；以及位置检测部，其根据上述第一受光部中的受光强度与上述第二受光部中的受光强度之差来检测上述对象物体的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 位置 检测 装置 以及 功能 设备 | ||
【主权项】：
一种光学式位置检测装置，其特征在于，用于检测对象物体的位置，具有：射出检测光的多个检测用光源；驱动该多个检测用光源的光源驱动部；第一受光部，其接受由位于上述检测光的出射空间的上述对象物体反射的上述检测光；补偿用光源部，其射出不向上述出射空间入射的补偿光；第二受光部，其不接受上述检测光而接受上述补偿光；以及位置检测部，其根据上述第一受光部中的受光强度与上述第二受光部中的受光强度之差来检测上述对象物体的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社，未经精工爱普生株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110415425.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于选择性显示的方法和设备
- 下一篇：便携折叠式坐便器
