[发明专利]H型测力构架的扭转载荷测试结构有效
| 申请号： | 201110387884.7 | 申请日： | 2011-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN103134625A | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 孙守光;任尊松;刘志明;李强;谢基龙 | 申请（专利权）人： | 北京交通大学 |
| 主分类号： | G01L1/22 | 分类号： | G01L1/22;G01M17/08 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 100044*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种H型测力构架的扭转载荷测试结构，是由规格相同的第一应变片、第二应变片、第三应变片以及第四应变片组成的扭转载荷全桥电路，所述的第一应变片与第二应变片分别粘贴于构架的其中一根横梁与左、右侧梁连接处的横梁顶面中性层位置；所述的第三应变片与第四应变片分别粘贴于构架的另外一根横梁与左、右侧梁连接处的横梁顶面中性层位置；四个应变片均沿构架横向粘贴。采用本发明提供的测试结构，不仅可以得到施加于构架结构的载荷与输出电压的关系，同时得到施加于构架结构的载荷与构架结构疲劳损伤关键部位应变的准静态关系。解决了传统载荷直接测试法中测得的载荷与构架结构疲劳损伤关键部位应变之间呈动态关系的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测力 构架 扭转 载荷 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种H型测力构架的扭转载荷测试结构，其特征在于：是由规格相同的第一应变片(1)、第二应变片(2)、第三应变片(3)以及第四应变片(4)组成的扭转载荷全桥电路，其中：所述的第一应变片(1)与第二应变片(2)分别粘贴于构架的其中一根横梁(91)与左、右侧梁(93、94)连接处的横梁(91)顶面中性层位置；所述的第三应变片(3)与第四应变片(4)分别粘贴于构架的另外一根横梁(92)与左、右侧梁(93、94)连接处的横梁(92)顶面中性层位置；四个应变片(1、2、3、4)均沿构架横向粘贴。
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