[发明专利]一种集成电路故障的单光子检测方法及检测系统有效
| 申请号： | 201110376017.3 | 申请日： | 2011-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN102435936A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 潘中良;陈翎;李炜;吴培亨 | 申请（专利权）人： | 华南师范大学 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 江裕强 |
| 地址： | 510275 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路故障的单光子检测方法及检测系统。检测方法是通过对被测电路施加设定的测试矢量，使得在故障处有信号的变迁，从而导致产生微弱的发光，采用单光子探测器对故障的这种微弱发光进行探测。检测系统包括被测集成电路、光子计数电路模块、信号发生器和微型计算机，微型计算机控制整个系统的工作，通过微型计算机接收光子计数电路模块发送的探测数据，然后对探测数据与测试数据库中的数据进行比较和分析，实现对电路中故障的检测与定位。本发明可以直接对集成电路中的多种类型故障例如固定型故障、桥接故障、信号完整性故障等，进行检测与定位，从而提高电路芯片产品的质量与可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 故障 光子 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种集成电路故障的单光子检测方法，其特征在于包括如下步骤：（1）通过对被测电路施加测试矢量，使得在故障处有信号的变迁，从而导致产生微弱的发光；（2）采用单光子探测器对故障的所述微弱发光进行探测；（3）利用微型计算机对探测数据与测试数据库中的数据进行比较和分析，实现对故障位置的检测与定位；（4）微型计算机的显示器输出电路检测的结果，包括电路中的哪些信号线或电路模块发生了哪种类型的故障。
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