[发明专利]电气参数测试装置无效

专利信息
申请号: 201110370981.5 申请日: 2011-11-21
公开(公告)号: CN103123373A 公开(公告)日: 2013-05-29
发明(设计)人: 潘亚军;罗奇艳;陈鹏;童松林 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R21/133 分类号: G01R21/133;G01R19/25;G01R29/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种电气参数测试装置,通过将一第一比较芯片及一第二比较芯片的电源引脚连接至一供电电源,将该第一比较芯片的正输入引脚分别连接至一第一电源引脚及一第二电源引脚,所述第二比较芯片的其中一正输入引脚连接至所述一第三电源引脚,所述第一比较芯片的输出引脚分别连接至所述第一及第二测试引脚,所述第二比较芯片的其中一输出引脚连接至所述第三测试引脚,所述第一至第三测试引脚均连接至一单片机,所述单片机接收来自所述第一至第三测试引脚的测试信号,并对所述测试信号进行处理,进而实现方便、快捷地对所述第一至第三电源引脚输入至外设部件互连标准设备的电压的时序进行测试。
搜索关键词: 电气 参数 测试 装置
【主权项】:
一种电气参数测试装置,应用于一外设部件互连标准设备,所述外设部件互连标准设备通过该电气参数测试装置连接至一外设部件互连标准插槽,所述外设部件互连标准插槽包括第一电源引脚、第二电源引脚及第三电源引脚,分别用于输出不同的电压至所述外设部件互连标准设备;其特征在于:所述电气参数测试装置包括时序测试模块及单片机,该时序测试模块包括第一比较芯片、第二比较芯片、第一测试引脚、第二测试引脚及第三测试引脚,该第一比较芯片及第二比较芯片均包括电源引脚、一组负输入引脚、一组正输入引脚及一组输出引脚,该电源引脚连接至一供电电源,该第一比较芯片的负输入引脚及该第二比较芯片的其中一负输入引脚均连接至一参考电压,该第一比较芯片的正输入引脚分别连接至第一电源引脚及第二电源引脚,所述第二比较芯片的其中一正输入引脚连接至所述第三电源引脚,所述第一比较芯片的输出引脚分别连接至所述第一及第二测试引脚,所述第二比较芯片的其中一输出引脚连接至所述第三测试引脚,所述第一至第三测试引脚均连接至所述单片机,所述单片机用以接收来自所述第一至第三测试引脚的测试信号,并对所述测试信号进行处理,进而获得所述第一至第三电源引脚输入至所述外设部件互连标准设备的电压的时序。
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