[发明专利]复合集成传感器结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110366045.7 申请日: 2011-11-17
公开(公告)号: CN102502479A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 张挺;薛维佳;倪胜中;谢志峰 申请(专利权)人: 上海先进半导体制造股份有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;G01D21/02
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种复合集成传感器结构及其制造方法,该方法包括:提供基底,在其上形成掺杂区域;在基底表面淀积绝缘层;刻蚀绝缘层和基底形成槽;在基底表面和槽侧壁与底部淀积含掺杂元素的阻挡层;将其中的掺杂元素扩散至基底内,形成重掺杂层;去除槽底部的阻挡层,在槽侧壁上形成侧壁保护层;以侧壁保护层和绝缘层为掩模,继续刻蚀槽,形成深槽;腐蚀深槽,在基底内部形成腔体;在侧壁保护层之间填满隔离和/或填充材料;在基底表面制作导电引线和电极;在加速度传感器的区域淀积质量块,并作图形化;在质量块的周围形成隔离槽,质量块以悬臂形式与基底相连接。本发明采用正面的、与常规半导体工艺相兼容的工艺,具有实用、经济、高性能等优点。
搜索关键词: 复合 集成 传感器 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种复合集成传感器结构的制造方法,所述复合集成传感器结构包括加速度传感器、温度传感器和压力传感器,所述制造方法包括步骤:提供基底(101),在所述基底(101)上形成掺杂区域(102),分别作为所述压力传感器的压阻阵列(004)、所述加速度传感器的压阻单元(007)和所述温度传感器单元(006);在所述基底(101)的表面淀积绝缘层(103);依次刻蚀所述绝缘层(103)和所述基底(101),在所述基底(101)中形成用于制作腔体(109)的槽(104);在所述基底(101)的表面和所述槽(104)的侧壁与底部淀积含高浓度掺杂元素的阻挡层(105);将所述阻挡层(105)中的掺杂元素扩散至所述槽(104)与所述阻挡层(105)接触的基底表面内,在所述槽(104)的侧壁与底部形成重掺杂层(106);去除所述绝缘层(103)的表面和所述槽(104)的底部的所述阻挡层(105),在所述槽(104)的侧壁上形成侧壁保护层;以所述侧壁保护层和所述绝缘层(103)为掩模,继续刻蚀所述槽(104),形成深槽(108);采用湿法腐蚀法腐蚀所述深槽(108),在所述基底(101)的内部分别形成所述压力传感器和所述加速度传感器的腔体(109);在所述槽(104)的侧壁保护层之间填满隔离和/或填充材料(110),形成插塞结构,将所述腔体(109)与外界隔离;在所述基底(101)的表面制作导电引线和电极(111);在所述加速度传感器的区域淀积质量块(112),并对其作图形化;在所述质量块(112)的周围形成隔离槽(113),所述隔离槽(113)穿透所述加速度传感器的腔体(109)上方的基底(101),所述质量块(112)以悬臂形式与所述基底(101)相连接。
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