[发明专利]提取寄生参数的方法及系统有效
| 申请号： | 201110326502.X | 申请日： | 2011-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN102364480A | 公开（公告）日： | 2012-02-29 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚;叶甜春 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明;王宝筠 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提取寄生参数的方法，包括：将集成电路设计的版图划分为多个子区域；将几何同构的子区域置于同一个同构列表中；对每个同构列表中的至少一个子区域进行寄生参数的提取；根据同构列表中子区域间的几何关系和已提取的子区域的寄生参数，计算得到同构列表中其他子区域的寄生参数；将各子区域的寄生参数合并，以得到整个集成电路设计的寄生参数。通过合并寄生参数提取的任务，不用对整个版图区域进行寄生参数提取，减少了集成电路版图中寄生参数的提取数量，进而提高寄生参数提取速度，缩短集成电路设计的周期。 | ||
| 搜索关键词： | 提取 寄生 参数 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种提取寄生参数的方法，其特征在于，包括：将集成电路设计的版图划分为多个子区域；将几何同构的子区域置于同一个同构列表中；对每个同构列表中的至少一个子区域进行寄生参数的提取；根据同构列表中子区域间的几何关系和已提取的子区域的寄生参数，计算得到同构列表中其他子区域的寄生参数；将各个子区域的寄生参数合并，以得到整个集成电路设计的寄生参数。
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