[发明专利]具有可扩展性漂移区电阻的高压晶体管模型方法无效

专利信息
申请号: 201110312430.3 申请日: 2011-10-14
公开(公告)号: CN103049589A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 武洁 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 张骥
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种具有可扩展性漂移区电阻的高压晶体管模型方法,包括以下步骤:第一步,按照器件结构,将漏侧漂移区分为三部分:沟道有源区下的漂移区Loverld、场氧下的漂移区Ldrift1和漏极有源区下的漂移区Ldrift2;将源侧漂移区也分为三部分:沟道有源区下的漂移区Lovers、场氧下漂移区Ldrifts1和源极有源区下的漂移区Ldrifts2;第二步,精确模拟每部分漂移区的电阻特性;采用下述公式模拟器件的栅源电压Vgs、漏源电压Vds和体源电压Vbs对漂移区电阻特性的影响;本发明能够有效提高高压MOS或高压LDMOS模型精度,以提高高压集成电路仿真精度,节约电路设计周期。
搜索关键词: 具有 扩展性 漂移 电阻 高压 晶体管 模型 方法
【主权项】:
一种具有可扩展性漂移区电阻的高压晶体管模型方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步,按照器件结构,将漏侧漂移区分为三部分:沟道有源区下的漂移区Loverld、场氧下的漂移区Ldrift1和漏极有源区下的漂移区Ldrift2;将源侧漂移区也分为三部分:沟道有源区下的漂移区Lovers、场氧下漂移区Ldrifts1和源极有源区下的漂移区Ldrifts2;第二步,精确模拟每部分漂移区的电阻特性;采用下述公式模拟器件的栅源电压Vgs、漏源电压Vds和体源电压Vbs对漂移区电阻特性的影响; Rdrift = R DVD ( 1 + RDVG 1 - RDVG 1 RDVG 2 Vgs ) × ( 1 - Vbs × RDVB ) × Vds RDVD 1 × ( Ldrift Ddrift - Wdep ) ) - - - ( 1 ) 并采用下述公式模拟器件沟道长度、沟道宽度及漂移区各部分尺寸对漂移区电阻的影响; R DVD = RDVD W × exp ( - RDVDL × L RDVDLP ) × ( 1 + RDVDS W × L ) × f 1 × f 2 × f 3 - - - ( 2 ) 漏侧漂移区长度Ldrift=Loverld+Ldrift1+Ldrift2    (3)其中:f1(Ldrift1)=Ldrift1×RDSLP1+RDICT1              (4)f2(Ldrift2)=Ldrift2×RDSLP2+RDICT2              (5) f 3 ( Lover ) = 1 + ( RDOV 1 - RDOV 1 RDOV 2 ) × Loverld + ( 1 - RDOV 3 ) × Loverld - - - ( 6 ) 或者源侧漂移区长度Ldrift=Lovers+Ldrifts1+Ldrifts2   (7)其中:f1(Ldrifts1)=Ldrifts1×RDSLP1+RDICT1        (8)f2(Ldrifts2)=Ldrifts2×RDSLP2+RDICT2        (9) f 3 ( Lovers ) = 1 + ( RDOV 1 - RDOV 1 RDOV 2 ) × Lovers + ( 1 - RDOV 3 ) × Lovers - - - ( 10 ) 其中:Rdrift是漂移区电阻;Ldrift是漂移区的长度;Vgs,Vbs,Vds分别是栅源电压、体源电压和漏源电压;RDVG1,RDVG2,RDVB,RDVD1分别是栅源一阶电压系数、栅源二阶电压系数、体源一阶电压系数、漏源电压指数;W,L分别是器件沟道宽度、沟道长度;Ddrift是漂移区结深;Wdep是漂移区与衬底PN结在漂移区侧所形成的耗尽区宽度;RDVD,RDVDL,RDVDS是与器件沟道宽度、沟道长度相关的漂移区电阻阻值;RDVDLP是指数项的修正因子;RDSLP1,RDICT1是Ldrift1修正因子;RDSLP2,RDICT2是Ldrift2修正因子;RDOV1,RDOV2,RDOV3是Lover修正因子。
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