[发明专利]一种基于支持向量分类的多测点平面度评定方法有效
| 申请号： | 201110311187.3 | 申请日： | 2011-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN102506805A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 刘桂雄;姜焰鸣;高屹 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30 |
| 代理公司： | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人： | 魏殿绅 |
| 地址： | 510640 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于支持向量分类的多测点平面度评定方法，该方法包括：对被测表面上的点进行采样，获取各点的三维坐标测量值；计算测量点集对应的最小二乘平面，并以该最小二乘平面为基准剔除残差绝对值小的测量点；将绝对值大的测量点分别沿着最小二乘平面法向的正向和负向移动相同距离形成线性可分的正类点集和负类点集；利用线性分类的支持向量机方法计算出正类点集和负类点集的最大间隔平面，并利用该平面计算出平面度值。本发明可以减少了多测点平面度评定中的计算数据量，明显地提高了计算效率和评定结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 支持 向量 分类 多测点 平面 评定 方法 | ||
【主权项】：
一种基于支持向量分类的多测点平面度评定方法，其特征在于，所述方法包括：对被测表面上的点进行采样，获取各点的三维坐标测量值；计算测量点集对应的最小二乘平面，并以该最小二乘平面为基准剔除残差绝对值小的测量点；将绝对值大的测量点分别沿着最小二乘平面法向的正向和负向移动相同距离形成线性可分的正类点集和负类点集；利用线性分类的支持向量机方法计算出正类点集和负类点集的最大间隔平面，并利用该平面计算出平面度值。
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