[发明专利]衰减全反射光学测量平台有效
申请号: | 201110276756.5 | 申请日: | 2011-09-19 |
公开(公告)号: | CN102998097A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 祁志美;张喆 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01M11/04 | 分类号: | G01M11/04;G01N21/01;G01N21/25 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种衰减全反射光学测量平台,涉及光学测量技术,包括底座、转动臂、固定臂、测试部件等;测试部件为光波导测试装置或光波导生化传感器测试装置或棱镜全反射测试装置。固定臂与固定圆盘成一整体,转动臂与固定圆盘同轴转动连接,转动臂通过紧固螺钉锁定;固定臂与固定圆盘置于底座上方,与底座固定连接,转动臂位于底座与固定圆盘之间;测角转盘置于固定圆盘上方,与固定圆盘同轴固定连接;测试部件通过自身支杆固定在测角转盘上,光源和探测器分别固定到各自支架上,光源支架和探测器支架再通过支杆分别固定到固定臂和转动臂上,光源光穿过测试部件后被探测器接收。本发明装置入射角准确可调,可灵活接收出射光,重复性和通用性好。 | ||
搜索关键词: | 衰减 全反射 光学 测量 平台 | ||
【主权项】:
一种衰减全反射光学测量平台,包括底座、转动臂、固定臂、固定圆盘、测角转盘、光源、光源支架、探测器、探测器支架、测试部件及支杆;其特征在于,在固定圆盘侧面径向凸设有固定臂,固定圆盘与固定臂成一整体,固定圆盘中心通孔套设有轴,轴上端与固定圆盘固接,轴下端支于底座中心通孔中,固定臂与固定圆盘水平置于底座上方,由至少三组螺钉和配套垫圈与底座固定连接,固定圆盘侧面设有凹槽;固定臂外端上表面有一凹槽;转动臂内端通孔套于轴上,与固定圆盘同轴转动连接,位于底座与固定圆盘之间,转动臂外端上表面有一凹槽;转动臂内外两端之间向上凸设螺钉支架,螺钉支架中心水平螺设紧固螺钉,紧固螺钉内端头与固定圆盘侧凹槽相适配,通过紧固螺钉挤压凹槽即锁定转动臂;测角转盘水平置于固定圆盘上方,测角转盘底盘与固定圆盘同轴固定连接,测角转盘侧面径向凸设有角度微调螺杆,测角转盘上转动盘中心有通孔;固定臂外端凹槽中正交固接第一支杆下端,第一支杆上端可旋转的固接光源支架,光源固定在光源支架上;测角转盘上转动盘中心通孔内侧壁中正交固接第二支杆下端周圆,第二支杆上端固接测试部件,第二支杆与轴共一中心轴线;转动臂外端凹槽中正交固接第三支杆下端,第三支杆上端可旋转的固接探测器支架,探测器固定在探测器支架上;光源、测试部件及探测器的中心到底座上表面的距离相同,光源、测试部件、探测器处于同一水平面,光源光被耦合穿过测试部件后,被探测器接收。
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