[发明专利]天线特性测量系统和天线特性测量方法

摘要

本发明涉及天线特性测量系统和天线特性测量方法。提供了一种天线特性测量系统，其包括：测量点扫描器，其用于对测量点进行扫描；天线增益测量装置，其测量受测天线在多个测量点处的天线增益，确定多个测量点中的基准点，并且求得基准点处的天线增益与除基准点以外的多个测量点处的各个天线增益之间的天线增益差分值；以及天线特性测量装置，其测量受测天线在基准点处的基准天线特性，并且通过利用各个差分值校正基准天线特性，以求得受测天线在基准点以外的多个测量点中的各个测量点处的天线特性。

主权项

一种天线特性测量系统，该天线特性测量系统包括：测量点扫描器，其被配置成对测量点进行扫描；天线增益测量装置，其被配置成测量受测天线在多个所述测量点处的天线增益，确定多个所述测量点中的基准点，并且求得所述基准点处的天线增益与多个所述测量点中的除所述基准点以外的测量点处的各个天线增益之间的天线增益差分值；以及天线特性测量装置，其被配置成测量所述受测天线在所述基准点处的基准天线特性，并且基于所述基准天线特性和各个所述天线增益差分值来求得所述受测天线在多个所述测量点中的除所述基准点以外的各个测量点处的天线特性。