[发明专利]精确测量弱光纤光栅反射率的方法无效
| 申请号： | 201110264452.7 | 申请日： | 2011-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN102323042A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 徐团伟;李芳;刘育梁 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种精确测量弱光纤光栅反射率的方法，该方法包括：步骤1：将宽带光源与3dB耦合器的端口1连接；步骤2：将3dB耦合器的端口2与弱光纤光栅一端连接；步骤3：将3dB耦合器的端口3与光谱仪连接；步骤4：切割光纤光栅的另一端，获得平整端面；步骤5：设置光谱仪的分辨率，光谱仪对弱光纤光栅进行波长扫描，获得弱光纤光栅的反射谱，根据光谱中反射峰的高度来计算弱光纤光栅的反射率。 | ||
| 搜索关键词： | 精确 测量 弱光 光栅 反射率 方法 | ||
【主权项】：
一种精确测量弱光纤光栅反射率的方法，该方法包括：步骤1：将宽带光源与3dB耦合器的端口1连接；步骤2：将3dB耦合器的端口2与弱光纤光栅一端连接；步骤3：将3dB耦合器的端口3与光谱仪连接；步骤4：切割光纤光栅的另一端，获得平整端面；步骤5：设置光谱仪的分辨率，光谱仪对弱光纤光栅进行波长扫描，获得弱光纤光栅的反射谱，根据光谱中反射峰的高度来计算弱光纤光栅的反射率。
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