[发明专利]一种基于平行基线的圆阵相位干涉仪二维测向方法无效

专利信息
申请号: 201110235023.7 申请日: 2011-08-17
公开(公告)号: CN102419430A 公开(公告)日: 2012-04-18
发明(设计)人: 吴奉微;贾可新;李亚星;程婷;何子述;蒲刚;蒋林鸿;张昕;郑攀;邹丁秋 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01S3/14 分类号: G01S3/14;G06F19/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 徐宏;吴彦峰
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于无线电监测技术领域,本发明提供的是一种基于平行基线的相位干涉仪实现宽频段二维测向的方法。它是利用均匀圆阵中两组平行基线相位差的模糊数之间的线性关系,计算出两组平行基线的相位差的可能的模糊数组合,从而估计出可能的入射信号的方向余弦,然后计算与之对应的所有最长基线的相位差,与均匀圆阵的所有最长基线的实测相位差向量做相关,找出相关系数最大时所对应的相位差向量作为理论相位差向量的估计,通过解所有最长基线的相位模糊得到所有最长基线的无模糊相位差向量。本发明的方法可以克服其他解模糊方法的不足,使方向余弦的估计逼近克拉美罗下限,从而使入射信号方向估计达到很高的测向精度,另外,本发明的计算量较小。
搜索关键词: 一种 基于 平行 基线 相位 干涉仪 二维 测向 方法
【主权项】:
1.一种基于平行基线的圆阵相位干涉仪二维测向方法,所述方法具体包含以下步骤:第一步:选取平面阵中两组平行基线,基线长度分别为,且,两组平行基线之间的夹角为;第二步:计算第一组平行基线的相位差和第二组平行基线的相位差,并计算根最长基线的相位差向量,其中为阵元个数;第三步:利用第二步得到的相位差,计算两组平行基线可能的模糊数;其中为入射信号波长,表示四舍五入,表示向下取整;第四步:由第三步得到的模糊数,分别计算出N组可能的入射信号的方向余弦,其中;第五步:根据第四步得到的组入射信号的方向余弦,计算出根最长基线相位差向量;第六步:将第五步得到的根最长基线相位差向量与实测的根最长基线的相位差向量做相关运算并选择出相关系数最大时所对应的相位差向量记为;第七步:根据第六步得到的相位差向量得到根最长基线的模糊数向量;第八步:用第七步得到的模糊数向量得到无模糊的相位差向量
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