[发明专利]残余应力测试分析的局部热扰动方法有效
| 申请号： | 201110153054.8 | 申请日： | 2011-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN102419224A | 公开（公告）日： | 2012-04-18 |
| 发明（设计）人： | 吴臣武;陈光南 | 申请（专利权）人： | 中国科学院力学研究所 |
| 主分类号： | G01L1/00 | 分类号： | G01L1/00 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 胡剑辉;王艺 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种残余应力测试分析的局部热扰动方法，包括如下步骤：1)对材料的待测区域加热至该局部区域产生包含初始残余应力贡献的足够大的弹性变形，同时通过红外测温单元测量关键点温度，并通过摄像单元采集所述材料的表面变形过程的图像信息；2)根据所述图像信息通过计算得到热扰动后该局部区域的视应变场εSH，同时，基于有限元法计算局部加热所形成的温度场并根据温度场T计算得到热弹性应变场εTE；3)根据εSH＝εTE+ΔεIN的公式计算得到对应初始残余应力贡献的应变场增量ΔεIN；4)根据公式ΔεIN＝[K]×εIN计算获得初始残余应力。由于本发明采用局部热扰动的方式来检测材料的局部残余应力分布，因此不仅不用破坏材料本身，并且可以得到被测区域的残余应力分布结果。 | ||
| 搜索关键词： | 残余 应力 测试 分析 局部 扰动 方法 | ||
【主权项】：
一种残余应力测试分析的局部热扰动方法，包括如下步骤：1)对材料的待测局部区域加热至该局部区域产生足够的温升、使被测区域的初始残余应力/应变被扰动而重新分布，同时通过红外测温单元测量关键点温度，并通过摄像单元采集所述材料的表面变形过程的图像信息；2)根据所述图像信息通过计算得到热扰动后该局部区域的视应变场εSH，基于有限元法计算局部加热所形成的温度场T并根据温度场T计算得到热弹性应变场εTE；3)根据εSH＝εTE+ΔεIN的公式计算得到残余应力/应变重新分布所导致的应变场增量ΔεIN；4)根据公式σIN＝[K]×ΔεIN计算出初始残余应力场。
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