[发明专利]具有改良式黑电平校准的图像传感器有效

专利信息
申请号: 201110046568.3 申请日: 2011-02-17
公开(公告)号: CN102164250A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: W·郑;戴幸志;钱胤;H·李;H·E·罗兹 申请(专利权)人: 美商豪威科技股份有限公司
主分类号: H04N5/374 分类号: H04N5/374;H04N5/3745;H04N5/367
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 毛力
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开一种能够进行黑电平校准的成像系统,该成像系统包括成像像素阵列、至少一个黑基准像素以及周边电路。该成像像素阵列包括各自经耦合以捕获图像数据的多个有效像素。该黑基准像素经耦合以产生用于校准该图像数据的黑基准信号。光透射层设置于包括该成像系统的像素阵列管芯的第一面上,且覆盖至少该成像像素阵列和黑基准像素。光屏蔽层设置于该像素阵列管芯的该第一面上,且覆盖光透射层的一部分和该黑基准像素而不覆盖该成像像素阵列。
搜索关键词: 具有 改良 电平 校准 图像传感器
【主权项】:
一种成像系统,包括:成像像素阵列,其集成于像素阵列管芯上,所述成像像素阵列包括各自耦合以捕获图像数据的多个有效像素;至少一个黑基准像素,其集成于所述像素阵列管芯上,所述至少一个黑基准像素耦合以产生用于校准所述图像数据的黑基准信号;周边电路,其集成于所述像素阵列管芯上,所述周边电路经耦合以接收所述图像数据和所述黑基准信号;光透射层,所述光透射层设置于所述像素阵列管芯的第一面上,且覆盖至少所述成像像素阵列和所述至少一个黑基准像素;以及光屏蔽层,其设置于所述像素阵列管芯的所述第一面上,且覆盖所述光透射层的一部分和所述至少一个黑基准像素而不覆盖所述成像像素阵列。
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