[发明专利]包含抑制剂的无空隙亚微米结构填充用金属电镀组合物有效
申请号: | 201080015501.7 | 申请日: | 2010-03-25 |
公开(公告)号: | CN102365396A | 公开(公告)日: | 2012-02-29 |
发明(设计)人: | C·勒格尔-格普费特;R·B·雷特尔;C·埃姆内特;A·哈格;D·迈耶 | 申请(专利权)人: | 巴斯夫欧洲公司 |
主分类号: | C25D3/38 | 分类号: | C25D3/38;C23C18/31;C23C18/32;H01L21/288;H05K3/18;H05K3/24;C25D3/58;C25D7/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 刘金辉;林柏楠 |
地址: | 德国路*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: |
一种用于填充孔尺寸为30纳米或更小的亚微米尺寸结构的组合物,其包含铜离子源和至少一种选自式I化合物的抑制剂;其中-基团R1各自独立地选自氧化乙烯与至少一种其他C3-C4氧化烯的共聚物,所述共聚物为无规共聚物,-基团R2各自独立地选自R1或烷基,-X和Y独立地为间隔基,且对于每一重复单元X独立地选自C1-C6亚烷基和Z-(O-Z)m,其中基团Z各自独立地选自C2-C6亚烷基,-n为等于或大于0的整数,-m为等于或大于1的整数。 |
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搜索关键词: | 包含 抑制剂 空隙 微米 结构 填充 金属 电镀 组合 | ||
【主权项】:
1.一种用于填充孔尺寸为30纳米或更小的亚微米尺寸结构的组合物,其包含铜离子源和至少一种选自式I化合物的抑制剂:
其中-基团R1各自独立地选自氧化乙烯与至少一种其他C3-C4氧化烯的共聚物,所述共聚物为无规共聚物,-基团R2各自独立地选自R1或烷基,-X和Y独立地为间隔基,且对于每一重复单元X独立地选自C1-C6亚烷基和Z-(O-Z)m,其中基团Z各自独立地选自C2-C6亚烷基,-n为等于或大于0的整数,-m为等于或大于1的整数。
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