[实用新型]一种光谱测量系统有效
| 申请号： | 201020626232.5 | 申请日： | 2010-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN201885801U | 公开（公告）日： | 2011-06-29 |
| 发明（设计）人： | 潘蔚;唐义;李瀚波 | 申请（专利权）人： | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 100029 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种光谱测量系统，具体公开一种能测量光学系统光谱各向异性的光谱测量系统，它包括光谱仪，它还包括平行光管，平行光管内设有钨丝灯，测试样品固定在可升降旋转载物台上，光谱仪探头固定在可升降旋转支架上。本实用新型的系统不仅能测量截面直径小于25cm物体的反射率，而且可以测量任意入射-反射方向条件下物体的反射光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种光谱测量系统，它包括光谱仪(6)，其特征在于：它还包括平行光管(2)，平行光管(2)内设有钨丝灯(1)，测试样品(4)固定在可升降旋转载物台(3)上，光谱仪(6)固定在可升降旋转支架(5)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于核工业北京地质研究院，未经核工业北京地质研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201020626232.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电动机用指针式温度计
- 下一篇：一种平台
