[实用新型]太阳能晶片无接触式表面线痕自动检测系统无效
申请号: | 201020546870.6 | 申请日: | 2010-09-29 |
公开(公告)号: | CN201859125U | 公开(公告)日: | 2011-06-08 |
发明(设计)人: | 李福荣;邓超明 | 申请(专利权)人: | 上海星纳电子科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/892 | 分类号: | G01N21/892;G01B11/04;G01B11/22 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 201615 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型提供一种太阳能晶片无接触式表面线痕自动检测系统,包括自动传送模块,测量模块,信号处理模块和控制模块,其中,测量模块连接至自动传送模块和信号处理模块,控制模块又分别连接至自动传送模块和信号处理模块。本实用新型的一种太阳能晶片无接触式表面线痕自动检测系统可以通过一步操作,就可以得到太阳能晶片上、下表面线痕的数量,线痕的宽度,线痕深度的极差值Ry。本实用新型为自动无接触式检测,对晶片的无任何损伤。 | ||
搜索关键词: | 太阳能 晶片 接触 表面 自动检测 系统 | ||
【主权项】:
一种太阳能晶片无接触式表面线痕自动检测系统,其特征在于,包括:自动传送模块,用于传输太阳能晶片,其包括电机驱动电路,主动轮,从动轮,同步带,其中,电机驱动电路连接至主动轮,同步带设置在主动轮和从动轮上;测量模块,其包括第一探头,第二探头,光电传感器和探头移动装置,其中,第一探头设置于同步带的上方,用于测量太阳能晶片上表面到第一探头的第一距离,第二探头设置于同步带的下方,用于测量太阳能晶片下表面到第二探头的第二距离,光电传感器,用于探测太阳能晶片的位置,探头移动装置,用于移动第一探头和第二探头以改变测量晶片表面的对应位置;信号处理模块,包括第一信号处理单元和第二信号处理单元,分别用于对第一探头和第二探头检测的信号进行放大和滤波处理,对光电传感器检测的信号进行电压转换;控制模块,包括模数转换单元,通讯单元,计算及数据处理单元,用于对整个系统操作进行控制;其中,测量模块连接至自动传送模块和信号处理模块,控制模块又分别连接至自动传送模块和信号处理模块。
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