[发明专利]可兼顾分辨力和量程的激光差动共焦theta扫描检测方法有效

专利信息
申请号: 201010541404.3 申请日: 2010-11-12
公开(公告)号: CN102053047A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 赵维谦;邱丽荣;刘超 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N13/00 分类号: G01N13/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于表面微细结构测量技术领域,涉及一种可兼顾分辨力和量程的激光差动共焦theta扫描检测方法。该方法采用共焦theta显微术的光路布置对被测样品进行扫描测量,将物镜的光瞳面分割为照明光瞳和收集光瞳,入射光束透过照明光瞳后被物镜会聚到被测表面,载有被测样品信息的反射光经过收集光瞳后,被聚光镜会聚于探测面上,在探测焦面上离轴设置两个区域,测得这两个区域的响应并得出探测器响应特性方程,依据曲线在线性区间内的强度大小,或强度为零的位置,重构出被测样品的表面形貌和微观尺度。该方法结构简单,可有效兼顾分辨能力与量程范围,实现物体表面形貌和三维微细结构等的光学高分辨绝对测量。
搜索关键词: 兼顾 分辨力 量程 激光 差动 theta 扫描 检测 方法
【主权项】:
1.可兼顾分辨力和量程的激光差动共焦theta扫描检测方法,采用共焦theta显微术的光路布置对被测样品进行扫描测量,将物镜的光瞳面分割为照明光瞳和收集光瞳,入射光束透过照明光瞳后被物镜会聚到被测表面,载有被测样品信息的反射光经过收集光瞳后,被会聚物镜会聚到探测面上,其特征在于:(1)在探测焦面上相对xd轴偏移C处设置两个微小区域,测得这两个区域的响应分别为I1(z,-C)和I2(z,C),其中,z为被测样品的轴向位移,C为微小探测区域中心相对xd轴的偏移量;(2)依据响应,得出传感技术特性方程:(3)依据曲线IDCTS(z,C)在线性区间内的信号大小,或依据曲线IDCTS(z,C)零点的位置,重构出被测样品的表面形貌和微观尺度。
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