[发明专利]长跨度微孔阵列通孔检测仪无效

专利信息
申请号: 201010247442.8 申请日: 2010-08-06
公开(公告)号: CN101915544A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 翁希明;纪成绸;翁夏翔;何承安 申请(专利权)人: 翁希明
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;F01N3/20
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 张明
地址: 350003 福建省福州市工*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种长跨度微孔阵列通孔检测仪,包括基座、第一壳体、第二壳体、用于产生定向光源的射光仪、凸透镜、用于固定待测物的定位座和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪,所述第一壳体、定位座和第二壳体固定在基座上,所述射光仪固定在第一壳体内,所述摄像仪固定在第二壳体内,所述用于将射光仪射出的光线转换为平行光的凸透镜、定位座依次位于射光仪和摄像仪之间。有益效果是:本发明的长跨度微孔阵列通孔检测仪能够快速测定通孔是否贯通,采用与摄像机连接的计算机进行处理,能够智能化对待测物内密集排布的通孔阵列进行检测,由于通孔具有光通性,检测的可靠性高,且本发明操作简单,自动化程度高,能够显著节省人力成本。
搜索关键词: 跨度 微孔 阵列 检测
【主权项】:
一种长跨度微孔阵列通孔检测仪,其特征在于:包括基座、第一壳体、第二壳体、用于产生定向光源的射光仪、凸透镜、用于固定待测物的定位座、和用于与计算机连接并采集通孔状态的摄像仪,所述第一壳体、定位座和第二壳体固定在基座上,所述射光仪固定在第一壳体内,所述摄像仪固定在第二壳体内,所述用于将射光仪射出的光线转换为平行光的凸透镜、定位座依次位于射光仪和摄像仪之间。
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