[发明专利]分析装置无效
| 申请号： | 201010115467.2 | 申请日： | 2005-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN101806808A | 公开（公告）日： | 2010-08-18 |
| 发明（设计）人： | 藤本浩司;堀雅贵 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/10;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及在具有保持试料和试药的反应液的多个反应槽(56)的分析用具(Y)中指定各反应槽(56)的位置的技术。分析用具(Y)包括识别该分析用具(Y)指定部位的基准部(66)。该基准部(66)可以光学地确认，成为指定各反应槽(56)的位置用的基准。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种分析装置，利用具有用于保持试料和试药的反应液的多个反应槽的分析用具，在所述各反应槽的每个中进行试料的分析，其特征在于，包括：用于向所述各反应槽照射光，另一方面，接收此时从所述各反应槽行进的光的测光装置；和根据利用所述测光装置，向所述分析用具照射光时由所述测光装置接收光的结果，检测用于识别设置在所述分析用具上的该分析用具的指定部位的基准部的检测装置。
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