[实用新型]高刚度、高稳定的精密测量装置有效

专利信息
申请号: 200920095958.8 申请日: 2009-03-20
公开(公告)号: CN201364149Y 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 陈炳生;刘宝瑛;周涛;张鹏 申请(专利权)人: 陈炳生
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02;G01B21/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300190天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种在线非接触测量金属、非金属宽度、厚度的检测设备。传感器安装在微晶石或大理石、花岗岩测量架上,测量架安装在外壳内;测量架为以任意角度旋转的C型或整体框架或组合式框架测量架,测量架被安装在外壳内,并由底座固定。采用微晶石作为基础或框架的精密测量装置,光电测量装置的功能可正常、稳定实现,提高测量稳定性,降低设备费用成本,增强设备可靠测量性能。
搜索关键词: 刚度 稳定 精密 测量 装置
【主权项】:
1、一种高刚度、高稳定的精密测量装置,其特征在于:它包括测量架、传感器,所说的传感器安装在微晶石或大理石、花岗岩测量架上,测量架安装在外壳内。
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