[实用新型]光学头性能检查调整设备无效
| 申请号： | 200920014897.8 | 申请日： | 2009-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN201417606Y | 公开（公告）日： | 2010-03-03 |
| 发明（设计）人： | 温庆坡;孙冬;路忠良;刘大伟;韩勇权 | 申请（专利权）人： | 中国华录·松下电子信息有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 大连非凡专利事务所 | 代理人： | 闪红霞 |
| 地址： | 116023辽宁省大连市高新技术*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种体积小、成本低、通用性强的光学头性能检查调整设备，有上位机，上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接，DSP芯片与FPGA控制器相接，FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接；FPGA控制器的输出与激光管控制电路相接；FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路相接；用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接；信号处理电路的输出与示波器、Jitter表相接，Jitter表的输出通过A/D-1与FPGA控制器相接。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 性能 检查 调整 设备 | ||
【主权项】：
1.一种光学头性能检查调整设备，其特征在于：设有上位机，上位机通过ARM芯片与DSP芯片及FPGA控制器相接，DSP芯片与FPGA控制器相接，FPGA控制器通过D/A-1与用于与主轴电机相接的电机驱动电路相接；FPGA控制器的输出与激光管控制电路相接；FPGA控制器的输出通过D/A-2与线圈驱动电路相接；用于与被测光头相接的信号处理电路通过A/D-2与FPGA控制器相接；信号处理电路的输出与示波器、Jitter表相接，Jitter表的输出通过A/D-1与FPGA控制器相接。
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