[发明专利]零点标定装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种零点标定装置及其测量方法，该测量方法包括：第一零点标定步骤，得到第一零点；第二零点标定步骤，得到第二零点；零点计算步骤，获取零点；K₁标定步骤，标定辐射探测器的输出信号小于第一零点时的K₁；K₂标定步骤，标定辐射探测器的输出信号大于第一零点时的K₂；物质测量步骤，当辐射探测器的输出信号小于第一零点时，根据输出信号、K₁、零点获取被测物质的性能参数测量值；或当辐射探测器的输出信号大于第一零点时，根据输出信号、K₂、第一零点获取被测物质的性能参数测量值。本发明通过利用物质吸收原理实现了对物质重量或密度或厚度测量范围变化跨度大(F_min-F_max跨度大)的测量。

主权项

1、一种零点标定装置，包括支架、驱动器、吸收片，其特征在于，所述吸收片通过所述支架安装在测量系统的辐射源与辐射探测器之间，所述吸收片包括第一吸引片或第一吸引片和第二吸引片；所述驱动器驱动所述第一吸引片、所述第二吸引片分别置于所述辐射源的射线发射窗口、所述辐射探测器之间，所述测量系统的数据采集处理系统采集所述辐射探测器在测量时间内相应的输出信号，获取该测量时间内该相应的输出信号的平均值，以得到第一零点、第二零点；所述数据采集处理系统根据所述第一吸引片的厚度、所述第二吸引片的厚度、所述第一零点、所述第二零点获取所述零点。