[发明专利]基于单应性矩阵的结构光三维检测方法无效
申请号: | 200910045010.6 | 申请日: | 2009-01-08 |
公开(公告)号: | CN101476882A | 公开(公告)日: | 2009-07-08 |
发明(设计)人: | 杨旭波;曾亮;肖双九;王宇超 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 | 代理人: | 王锡麟;王桂忠 |
地址: | 200240*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种计算机视觉技术领域的基于单应性矩阵的结构光三维检测方法,本发明中,利用棋盘格图案中的特征点获取相机成像面分别与平面P1和P2对应的单应性矩阵,同时在平面P1和P2上分别测定投影仪投影面和相机成像面对应的单应性矩阵,给定投影面上某条光栅的直线方程,根据单应性矩阵获得成像面和世界坐标系下的平面,并建立成像面和世界坐标系下平面之间的关系,并通过变换关系得到每条光栅在世界坐标系下的位置,从而获取三维信息。本发明可以简便的测量世界坐标,并避免了设备相关性问题,本发明在保证精度的条件下简化了三维检测的操作。 | ||
搜索关键词: | 基于 单应性 矩阵 结构 三维 检测 方法 | ||
【主权项】:
1、一种基于单应性矩阵的结构光三维检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,在投影仪和摄像机之间设置互相平行的两个平面P1和P2,两个平面P1和P2用于放置获取单应性矩阵的棋盘格图案,投影仪和平面P1之间设有带有光栅的投影面,投影仪和投影面上的一条光栅确定一个光平面;步骤二,利用棋盘格图案中的特征点获取相机成像面分别与平面P1和P2对应的单应性矩阵HCQ1和HCQ2;步骤三,利用棋盘格图案中的特征点在平面P1和P2上分别测定投影仪投影面和相机成像面对应的单应性矩阵HPC1和HPC2;步骤四,给定投影面上某条光栅的直线方程,根据步骤三中的单应性矩阵HPC1、矩阵HPC2获得直线C11C12和直线C21C22,由直线C11C12和C21C22确定成像面C11C12C22C21;步骤五,根据步骤四求得的直线C11C12、直线C21C22和步骤二中的单应性矩阵HCQ1、矩阵HCQ2获得直线Q11Q12和直线Q21Q22,由直线Q11Q12和Q21Q22确定世界坐标系下的平面Q11Q12Q22Q21,平面Q11Q12Q22Q21是在三维空间的平面;步骤六,建立成像面C11C12C22C21和世界坐标系下平面Q11Q12Q22Q21之间的关系:(X,Y,1)T=R(Xw,Yw,Zw)T+T,其中,(X,Y)为成像面C11C12C22C21中的坐标,(Xw,Yw,Zw)为世界坐标系下平面Q11Q12Q22Q21中的坐标,R为旋转矩阵,T为平移向量,则平面P1或P2上任意一个点(x,y)与世界坐标系下平面上对应点(Xw,Yw,Zw)的关系如下:式中,3×4矩阵表示出两个面的变换关系,利用成像面和世界坐标系下平面上对应的特征点即可确定该3×4矩阵;步骤七,把目标物体放在平面P2上,投影结构光,拍摄得到含有结构光的一组图像,然后对结构光进行解码,区分出光栅的数目,获得光栅在有目标物体影响下在相机成像面上的位置;步骤八,在步骤七获得光栅在有物体影响下,在相机成像面上的位置的基础上,获得到每条光栅各自确定的平面C11C12C22C21和Q11Q12Q22Q21,以及由平面C11C12C22C21到平面Q11Q12Q22Q21映射的3×4矩阵,通过步骤六中的变换关系得到每条光栅在世界坐标系下的位置,从而获取三维信息。
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