[发明专利]一种成型荫罩曲面的测量方法无效
申请号: | 200910022129.1 | 申请日: | 2009-04-21 |
公开(公告)号: | CN101539416A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | 赵鹏亮;赵军;徐莉华;杨威 | 申请(专利权)人: | 彩虹显示器件股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G01B21/04 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘国智 |
地址: | 71202*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种成型荫罩曲面的测量方法,包括如下步骤:第一,先利用三坐标测得已知管型的屏内曲面及荫罩曲面的三维坐标值(x,y,z);第二,将上步三坐标测量的曲面坐标值(x,y,z)拟合为多项表达式Z=f(x,y),第三,求出待测管型的荫罩曲面的三维坐标值(x,y,z),将求得的荫罩曲面的三维坐标值(x,y,z)按公式Z=f(x,y)拟合为多项式表达,具有原理简单,测量速度快,精确度高的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 成型 曲面 测量方法 | ||
【主权项】:
1、一种成型荫罩曲面的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:第一,先利用三坐标测得已知管型的屏内曲面及荫罩曲面的三维坐标值(x,y,z);第二,将第一步采集的三坐标测量的曲面坐标值(x,y,z)拟合为多项表达式Z=f(x,y),多项式采用8系数,10系数或16系数,例如10系数公式为:Z=a1X2+a2X4+a3X6+a4Y2+a5X2Y2+a6X4Y2+a7Y4+a8X2Y4+a9X4Y4+a10Y6;第三,求出待测管型的荫罩曲面:将上步拟合公式的系数代入下述关系式(4)X X 1 = Y Y 1 = Z Z 1 = Z a 1 X 1 2 + a 2 X 1 4 + a 3 X 1 6 + a 4 Y 1 2 + a 5 X 1 2 Y 1 2 + a 6 X 1 4 Y 1 2 + a 7 Y 1 4 + a 8 X 1 2 Y 1 4 + a 9 X 1 4 Y 1 4 + a 10 Y 1 6 ]]> 中,其基础的公式推导过程如下:σ = sg · Q Lsg · Q - - - - - - - - ( 1 ) ]]>PH ′ = PH · Lsg Lsg · Q - - - - - - ( 2 ) ]]> 在最佳状态3σ=PH′时电子束着屏裕度最大从(1)、(2)两式得:3 Sg · Q Lsg · Q = P H · Lsg Lsg - Q ]]> 所以:Q = PH · Lsg 3 Sg - - - - - - - ( 3 ) ]]> 上式中:Q为荫罩曲面到屏面的距离,PH为荫罩水平节距,Lsg为偏转中心高度,Sg为束间距,(X1,Y1,Z1)为已知荫罩曲面坐标值;设已知管型和待测管型的束间距Sg相同都是S,已知管型的荫罩曲面到屏面的距离Q1,偏转中心高度L1,荫罩水平节距PH用(Q1,L1,PH1)表示,计算待测管型的荫罩曲面到屏面的距离Q2:由公式(3)得出:Q 1 = PH 1 * L 1 3 S ]]>Q 2 = PH 2 * L 2 3 S ]]> 两式相比得出:Q 1 Q 2 = PH 1 * L 1 PH 2 * L 2 ]]>Q 2 = Q 1 * PH 2 * L 2 PH 1 * L 1 ]]> 因式中Q1,PH1,L1,L2均为已知,则可将上式表示为:Q2=α*PH2α = Q 1 * L 2 PH 1 * L 1 ]]> 根据直线方程,有X X 1 = Y Y 1 = Z Z 1 - - - - - - - - - - ( 4 ) ]]> 先在待测管型的曲面2上取任意一点m,有X M = Z M * X 1 Z 1 ]]>Y M = Z M * Y 1 Z 1 ]]> QM=α*PHM设Q值合适时的点为n,有Q N = ( X 1 - X M ) 2 + ( Y 1 - Y M ) 2 + ( Z 1 - Z M ) 2 ]]> Δ=QM-QN最后,利用逼近法编程,使得当Δ趋于无穷小时,则m,n点重合,m点坐标即为所求曲面坐标(XN,YN,ZN),再将求得的荫罩曲面坐标(XN,YN,ZN)按公式Z=f(x,y)拟合为多项式表达。
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