[发明专利]一种成型荫罩曲面的测量方法无效

专利信息
申请号: 200910022129.1 申请日: 2009-04-21
公开(公告)号: CN101539416A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 赵鹏亮;赵军;徐莉华;杨威 申请(专利权)人: 彩虹显示器件股份有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B21/04
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 代理人: 刘国智
地址: 71202*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种成型荫罩曲面的测量方法,包括如下步骤:第一,先利用三坐标测得已知管型的屏内曲面及荫罩曲面的三维坐标值(x,y,z);第二,将上步三坐标测量的曲面坐标值(x,y,z)拟合为多项表达式Z=f(x,y),第三,求出待测管型的荫罩曲面的三维坐标值(x,y,z),将求得的荫罩曲面的三维坐标值(x,y,z)按公式Z=f(x,y)拟合为多项式表达,具有原理简单,测量速度快,精确度高的特点。
搜索关键词: 一种 成型 曲面 测量方法
【主权项】:
1、一种成型荫罩曲面的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:第一,先利用三坐标测得已知管型的屏内曲面及荫罩曲面的三维坐标值(x,y,z);第二,将第一步采集的三坐标测量的曲面坐标值(x,y,z)拟合为多项表达式Z=f(x,y),多项式采用8系数,10系数或16系数,例如10系数公式为:Z=a1X2+a2X4+a3X6+a4Y2+a5X2Y2+a6X4Y2+a7Y4+a8X2Y4+a9X4Y4+a10Y6;第三,求出待测管型的荫罩曲面:将上步拟合公式的系数代入下述关系式(4)XX1=YY1=ZZ1=Za1X12+a2X14+a3X16+a4Y12+a5X12Y12+a6X14Y12+a7Y14+a8X12Y14+a9X14Y14+a10Y16]]>中,其基础的公式推导过程如下:σ=sg·QLsg·Q--------(1)]]>PH=PH·LsgLsg·Q------(2)]]>在最佳状态3σ=PH′时电子束着屏裕度最大从(1)、(2)两式得:3Sg·QLsg·Q=PH·LsgLsg-Q]]>所以:Q=PH·Lsg3Sg-------(3)]]>上式中:Q为荫罩曲面到屏面的距离,PH为荫罩水平节距,Lsg为偏转中心高度,Sg为束间距,(X1,Y1,Z1)为已知荫罩曲面坐标值;设已知管型和待测管型的束间距Sg相同都是S,已知管型的荫罩曲面到屏面的距离Q1,偏转中心高度L1,荫罩水平节距PH用(Q1,L1,PH1)表示,计算待测管型的荫罩曲面到屏面的距离Q2:由公式(3)得出:Q1=PH1*L13S]]>Q2=PH2*L23S]]>两式相比得出:Q1Q2=PH1*L1PH2*L2]]>Q2=Q1*PH2*L2PH1*L1]]>因式中Q1,PH1,L1,L2均为已知,则可将上式表示为:Q2=α*PH2α=Q1*L2PH1*L1]]>根据直线方程,有XX1=YY1=ZZ1----------(4)]]>先在待测管型的曲面2上取任意一点m,有XM=ZM*X1Z1]]>YM=ZM*Y1Z1]]>QM=α*PHM设Q值合适时的点为n,有QN=(X1-XM)2+(Y1-YM)2+(Z1-ZM)2]]>Δ=QM-QN最后,利用逼近法编程,使得当Δ趋于无穷小时,则m,n点重合,m点坐标即为所求曲面坐标(XN,YN,ZN),再将求得的荫罩曲面坐标(XN,YN,ZN)按公式Z=f(x,y)拟合为多项式表达。
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