[实用新型]一种光中子-X射线违禁品检测系统无效
| 申请号： | 200820125727.2 | 申请日： | 2008-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN201247208Y | 公开（公告）日： | 2009-05-27 |
| 发明（设计）人： | 康克军;胡海峰;杨袆罡;陈志强;苗齐田;程建平;李元景;刘以农;彭华;李铁柱;赵自然;刘耀红;吴万龙 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/08 | 分类号： | G01N23/08;G01N23/04;G01N23/222;G01V5/00;G21F1/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 范晓斌;梁 冰 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光中子-X射线违禁品检测系统。该系统包括：X射线发生器，其产生X射线主束，X射线主束包括第一X射线束和第二X射线束，第一X射线束被引导穿过该被检物体；光中子转换靶，该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束，从而产生光中子，光中子被引导进入该被检物体，并与所述被检物体反应发出特征性γ射线；X射线探测装置，该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束，以便对该被检物体进行X射线成像检测；γ射线探测装置，该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线，以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测；其中，该系统同时对该被检物体进行X射线成像检测和中子检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 中子 射线 违禁品 检测 系统 | ||
【主权项】：
1. 一种光中子-X射线违禁品检测系统，用于检测被检物体，该系统包括：X射线发生器，用于产生X射线主束，所述X射线主束包括从其分出的第一X射线束和第二X射线束，所述第一X射线束被引导进入该被检物体并穿过该被检物体；光中子转换靶，该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束，从而产生光中子，所述光中子被引导进入该被检物体，并与所述被检物体反应发出特征性γ射线；X射线探测装置，该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束，以便对该被检物体进行X射线成像检测；γ射线探测装置，该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线，以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测；其中，所述系统同时对所述被检物体进行所述X射线成像检测和所述中子检测。
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