[发明专利]用于自动测试设备的有效性校准方法无效
| 申请号： | 200810239569.8 | 申请日： | 2008-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN101750597A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张琳;吉国凡;石志刚;刘炜;王慧;金兰;宋奕霖 | 申请（专利权）人： | 北京华大泰思特半导体检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 陈曦 |
| 地址： | 100088 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于自动测试设备的有效性校准方法，包括如下步骤：(1)启动自动测试设备，执行自检程序；(2)自检完毕之后，由外部测量设备连接测试用适配板的测量点，开始校准工作；(3)执行通道特性参数测量；(4)执行管脚参数测量单元测量；(5)执行板参数测量单元测量；(6)执行器件电源测量。本有效性校准方法可以实现自动测试设备的自动化整体原位校准，从而确保自动测试设备的测试质量和有效使用，并保证所有校准的指标和参数能够溯源到国家标准。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 自动 测试 设备 有效性 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种用于自动测试设备的有效性校准方法，其特征在于包括如下步骤：(1)启动自动测试设备，执行自检程序；(2)自检完毕之后，由外部测量设备连接测试用适配板的测量点，开始校准工作；(3)执行通道特性参数测量；(4)执行管脚参数测量单元测量；(5)执行板参数测量单元测量；(6)执行电源测量。
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