[发明专利]记录数据的设备和再现数据的设备有效
| 申请号： | 200810081212.1 | 申请日： | 2004-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN101266823A | 公开（公告）日： | 2008-09-17 |
| 发明（设计）人： | 黃盛凞;高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B7/0045 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;常桂珍 |
| 地址： | 韩国京畿道*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供一种在光学记录介质上记录数据的设备以及一种从光学记录介质再现数据的设备，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述记录数据的设备包括：拾取器，发射光以传递关于所述光学记录介质的数据；和控制器，选择缺陷管理开/关模式，所述缺陷管理开/关模式允许所述设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行，并且所述控制器控制拾取器将临时盘定义结构记录在设置于导入区或导出区中的临时缺陷管理区中，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 数据 设备 再现 | ||
【主权项】：
1、一种在光学记录介质上记录数据的设备，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述临时缺陷管理区存储关于在数据区中检测的缺陷的临时缺陷信息以及用于管理临时缺陷信息的临时盘定义结构，所述缺陷管理区存储在所述光学记录介质的最终确定期间记录在所述临时缺陷管理区中的最终的临时缺陷信息和最终的临时盘定义结构，所述设备包括：拾取器，发射光以传递关于所述光学记录介质的数据；和控制器，选择缺陷管理开/关模式，所述缺陷管理开/关模式允许所述设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行，并且所述控制器控制拾取器将临时盘定义结构记录在设置于导入区或导出区中的临时缺陷管理区中，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息。
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