[发明专利]记录数据的设备和再现数据的设备

说明书

本申请是申请日为2004年4月14日、申请号为200480010138.4、发明名称为“记录/再现方法、记录/再现设备和光学记录介质”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及盘的领域，更具体地说，涉及一种记录/再现方法、一种记录/再现设备、一种光学记录介质和一种已经在其上记录用于所述记录/再现方法的程序的计算机可读记录介质。

背景技术

近年来，光学记录技术(即，用于在光盘上记录数据的技术)已经取得了显著的进步。随着这些进步，各种类型的光盘记录/再现设备已经被开发。

一次写入光盘是一种数据仅可被写入一次的光盘。例如，传统的可记录致密盘(CD-R)和可记录数字多功能盘(DVD-R)是一次写入光盘的形式。一般地，在一次写入光盘中，通过将热量施加于使用激光以形成记录标记的记录层的预定区域，记录层的状态被改变。

缺陷管理涉及重写已经被记录在产生缺陷的用户数据区中的用户数据，从而补偿由缺陷的产生引起的数据丢失。传统上，缺陷管理分为使用线性替换方法的缺陷管理和使用滑移替换方法的缺陷管理，在线性替换方法中，产生缺陷的用户数据区的区域被没有产生缺陷的备用区的区域替换。在滑移替换方法中，产生缺陷的区域被滑移过，而没有使用这样的区域，并且没有产生缺陷的下一区域被使用。

在线性替换方法的情况下，产生缺陷的用户数据区的块被称为缺陷块，并且在盘的预定区域中设置备用区，所述备用区是用于替换缺陷块的替换块的空间。

因为一次写入光盘不能被重写，所以与可重写光盘中的缺陷管理方法不同的缺陷管理方法可被采用。在一次写入光盘的情况下，上述缺陷管理方法可被使用或可不被使用。因此，需要一种基于缺陷管理是否被使用来使用一次写入光盘的方法。

发明内容

本发明的一方面提供了一种记录/再现方法、一种记录/再现设备、一种光学记录介质和一种已经在其上记录用于所述记录/再现方法的程序的计算机可读记录介质，其中，根据缺陷管理是否被采用，一次写入光盘可被使用。

在下面的描述中将部分地阐明本发明另外的方面和/或优点，通过描述，其会变得更加明显，或者通过实施本发明可以了解。

根据本发明的一方面，一种在记录介质上记录数据的方法包括：在指示是否将对记录介质执行缺陷管理的缺陷管理开模式和缺陷管理关模式之间选择可选的缺陷管理模式；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对该记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质上；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。

根据本发明的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤包括将记录介质初始化为缺陷开模式，所述初始化包括：将用于替换在记录介质的数据区中产生的缺陷的备用区分配给数据区；以及将临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的临时缺陷管理区中，所述临时缺陷管理信息包括关于分配的备用区的信息和指示缺陷管理开模式的标识符。

根据本发明的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括：以预定的操作为单位将替换块记录在备用区中，所述替换块替换关于在数据区中产生的缺陷的缺陷块；以及以预定的操作为单位在临时缺陷管理区中更新关于缺陷的信息和作为临时缺陷管理信息的对于缺陷管理的缺陷管理信息。

根据本发明的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括：改变备用区的大小，以及在临时缺陷管理区中更新临时缺陷管理信息，所述临时缺陷管理信息包括关于备用区的改变的大小的信息。

根据本发明的一方面，在缺陷管理开模式下记录数据的步骤还包括：将缺陷管理开模式转换为缺陷管理关模式。

根据本发明的一方面，转换为缺陷管理关模式的步骤包括：将记录介质重新初始化为缺陷管理关模式；以及在没有缺陷管理的情况下将数据记录在记录介质中。

根据本发明的一方面，重新初始化为缺陷管理关模式的步骤包括：将指示缺陷管理关模式的标识符记录在临时缺陷管理区中；以及将在临时缺陷管理区中最终更新的临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的缺陷管理区中。

根据本发明的一方面，所述记录方法还包括最终确定记录介质，其中，最终确定记录介质的步骤包括：将指示记录介质的最终确定的最终确定标志记录在临时缺陷管理区中；将包括临时缺陷管理区中的最终更新的关于缺陷的信息和缺陷管理信息的临时缺陷管理信息记录在记录介质提供的缺陷管理区中；以及以预定数据填充在其中没有记录数据的临时缺陷管理区的剩余区域。