[发明专利]获取纳滤膜流动电位的方法及装置

摘要

获取纳滤膜流动电位的方法及装置，涉及从测量的跨膜电位中分离出流动电位的解析方法。本发明通过测定跨膜电位、压差、通量和截留率，根据Spiegler－Kedem方程，对截留率和通量进行非线性最小二乘拟合，获得反射系数，把截留率趋于反射系数时体系的压差称为标记压差，对超过标记压差值的测量压差及对应的跨膜电位进行线性拟合，斜率的大小即为流动电位。测量装置包含恒温槽、储液槽、恒流泵和膜器，其中恒温槽中放置储液槽，恒流泵、储液槽和膜器通过非金属导管相连接，压力表、电位差计和流量计连接在膜器两侧。本发明提供的方法及装置能成功从跨膜电位中分离出流动电位，为表征纳滤膜的电性质以及分离性能提供数据支持。

主权项

1.一种获取纳滤膜流动电位的方法，其特征在于该方法按照如下步骤进行：1)使原料液在压力差作用下透过纳滤膜，用压力表测量压力差；2)通过电位差计，测量跨膜电位；3)通过测量单位时间内透过液的质量，得到透过液的通量；4)由原料液中电解质的浓度cb和透过液中电解质的浓度cp，计算得到截留率R，其中R＝1-cp/cb；5)根据Spiegler-Kedem方程，对体系所得的截留率和通量进行非线性最小二乘拟合，获得反射系数；6)把截留率接近反射系数时体系的压差称为标记压差，对超过标记压差值的测量压差及对应的跨膜电位进行线性拟合，斜率的大小即为流动电位的值。