[实用新型]一种TFT LCD测试设备的探针结构有效
| 申请号： | 200720170302.9 | 申请日： | 2007-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN201069498Y | 公开（公告）日： | 2008-06-04 |
| 发明（设计）人： | 肖光辉;于洪俊 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1362;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100176北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种TFT LCD测试设备的探针结构，包括：探针本体，与探针本体连接的同轴电缆，其中在探针本体的末端连接有接触头；接触头的材料与探针本体的材料相同；探针本体与同轴电缆之间的连接为固定连接；接触头为圆形、长方形或正方形等形状，且面积小于等于被测试的栅线绑定部或数据线绑定部的面积的1/3。本实用新型在不影响测试结果的前提下，通过对测试设备的探针结构进行变更，达到检测时不使用耗材，提高检测的便利性和检测设备的使用效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tft lcd 测试 设备 探针 结构 | ||
【主权项】：
1.一种TFT LCD测试设备的探针结构，包括：探针本体，与探针本体连接的同轴电缆，其特征在于：在所述探针本体的末端连接有接触头。
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