[发明专利]非正常盘片检测方法无效

专利信息
申请号: 200710305423.4 申请日: 2007-12-28
公开(公告)号: CN101471095A 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: 徐嘉星;萧亦隆 申请(专利权)人: 广明光电股份有限公司
主分类号: G11B7/095 分类号: G11B7/095
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 蒲迈文;黄小临
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种非正常盘片检测方法,首先单行程移动物镜(lens)使投射光束穿越盘片数据层,检测及记录RF讯号的行程,检查到达单行程的终点,假如未到达单行程的终点,则回至继续移动物镜,假如到达单行程的终点,则计算出检测到RF讯号存在的偏摆行程长度,再比较偏摆行程长度大于行程阈值,假如偏摆行程长度不大于行程阈值则判断为正常盘片,假如偏摆行程大于行程阈值,则判断为非正常盘片,以快速检测非正常盘片。
搜索关键词: 正常 盘片 检测 方法
【主权项】:
1. 一种非正常盘片检测方法,其步骤包含:(1)单行程移动物镜使投射光束穿越盘片数据层;(2)记录检测到RF讯号的行程;(3)计算出检测到RF讯号存在的偏摆行程长度;以及(4)比较偏摆行程长度是否大于行程阈值 假如偏摆行程长度不大于行程阈值则判断为正常盘片,假如偏摆行程大于行程阈值,则判断为非正常盘片。
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