[发明专利]光学测孔方法无效
| 申请号： | 200710142862.8 | 申请日： | 2007-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN101109623A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 徐春广;肖定国;朱文娟;冯忠伟;郝娟;周世圆 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所 | 代理人： | 韩登营;李殿健 |
| 地址： | 100081北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种光学测孔方法，包括如下步骤：a.将激光光源放入待测孔内并使其发光；b.用与激光光源相间设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光；c.对由光拾取装置拾取到的信号进行处理。通过使用该方法，可非接触、高效且精度较高地测孔。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学测孔方法，包括如下步骤：a.将激光光源放入待测孔内并使其工作；b.用与激光光源相向设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光；c.对由光拾取装置拾取到的信号进行处理。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学，未经北京理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710142862.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
