[发明专利]一种手机电路板测试方法无效
| 申请号： | 200710074629.0 | 申请日： | 2007-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN101315409A | 公开（公告）日： | 2008-12-03 |
| 发明（设计）人： | 刘玉兰;唐新颖;顾守军;周金林 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 深圳市港湾知识产权代理有限公司 | 代理人： | 冯达猷 |
| 地址： | 518119广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种手机电路板电性能的测试方法，其步骤为：1.选择一组合格手机电路板，测试该组合格手机电路板的被测引脚信号，记录各被测引脚信号的电流值；2.根据该组合格手机电路板各被测引脚信号的电流值，确定合格手机电路板各被测引脚信号电流值的上限I1和下限I2；3.测试待测手机电路板各被测引脚信号的电流值I，如I2＜I＜I1，则为良品，如I＞I1或I＜I2，则为不良品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 手机 电路板 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种手机电路板电性能的测试方法，包括如下步骤：(1)、选择一组合格手机电路板，测试该组合格手机电路板的被测引脚信号，记录各被测引脚信号的电流值；(2)、根据该组合格手机电路板各被测引脚信号的电流值，确定合格手机电路板各被测引脚信号电流值的上限I1和下限I2；(3)、测试待测手机电路板各被测引脚信号的电流值I，如I2＜I＜I1，则为良品，如I＞I1或I＜I2，则为不良品。
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