[发明专利]CCD摄像系统的畸变测量校正方法和综合测试靶无效
| 申请号： | 200710064396.6 | 申请日： | 2007-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN101026778A | 公开（公告）日： | 2007-08-29 |
| 发明（设计）人： | 周桃庚;林家明;陈凌峰;张旭升;何川;沙定国 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京市德权律师事务所 | 代理人： | 王建国 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种CCD摄像系统的畸变测量校正方法和综合测试靶，所述综合测试靶由黑白间带和黑白带上的灰色目标点构成。所述的方法包括步骤：依次建立世界坐标系和摄像机坐标系之间、像素坐标系与图像坐标系之间、摄像机坐标系和图像坐标系之间的变换关系；采集畸变图像的成像极坐标；标定理想无畸变的成像极坐标；分别确定理想图像坐标点和畸变图像坐标点的对应关系，建立多项式模型；根据多项式系数测量并校正畸变。本发明的综合测试靶结合考虑了点靶和行靶信息，用测试靶替代传统的三个分立的靶板，解决了目标采样点的位置精度不高和目标采样点与其像点位置对应困难的问题。 | ||
| 搜索关键词： | ccd 摄像 系统 畸变 测量 校正 方法 综合测试 | ||
【主权项】：
1.一种用于CCD摄像系统畸变测量校正的综合测试靶，其特征在于，该综合测试靶由黑白间带和黑白带上的灰色目标点构成。
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