[发明专利]折轴/潜望望远光学系统透射比测试系统无效

专利信息
申请号: 200710063160.0 申请日: 2007-01-30
公开(公告)号: CN101013062A 公开(公告)日: 2007-08-08
发明(设计)人: 沙定国;张喆民;何川;林家明;周桃庚;陈凌峰;张旭升 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02
代理公司: 北京市德权律师事务所 代理人: 王建国
地址: 100081北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种折轴/潜望望远光学系统透射比测试系统,包括:1)光源组件,包括光源和调制盘;2)发射单元,包括平行光管和可换光阑;3)接收单元,包括用于探测入射光能量的积分球和光电倍增管;4)控制处理单元,包括锁相放大器、模数转换电路、单片机和显示屏;其特征在于,将发射单元和接收单元做成分体结构,并且各个分体结构都可以独立升降或俯仰调整,满足折轴望远光学系统透过率的测试要求;为提高测量精度,系统采用了双光路方式,在一定程度上排除了光源、探测器、高压电源、放大器等部件的信号漂移,一次100%校准后可以在长时间内进行测量。
搜索关键词: 折轴 望望 光学系统 透射 测试 系统
【主权项】:
1、一种折轴/潜望望远光学系统透射比测试系统,包括:1)光源组件,包括光源和调制盘;2)发射单元,包括平行光管和可换光阑;3)接收单元,包括用于探测入射光能量的积分球和光电倍增管;4)控制处理单元,包括锁相放大器、模数转换电路、单片机和显示屏;其特征在于,光源组件还包括:用于将光源的出射光分为两路的分光镜、用于切换两路光的电动光闸和用于传输两路光的参考光纤和测量光纤;其中,所述的发射单元和接收单元分别相对独立地安装在两付三维移动导轨上,所述的控制处理单元安装在一机柜内,且该机柜与安装接收单元的三维导轨竖轴成一体,并和光源组件共同安装在该三维导轨的一横轴上。
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