[发明专利]一种6nm-100nm波段极紫外成像光学仪器成像质量测试装置无效
申请号: | 200610163271.4 | 申请日: | 2006-12-18 |
公开(公告)号: | CN101169349A | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
发明(设计)人: | 巩岩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M11/02 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 | 代理人: | 南小平 |
地址: | 130031吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明属于短波段成像光学领域,具体的说是一种极紫外成像光学仪器成像质量测试装置。在本发明中设计了如图所表示的检测装置,整个光学系统均处于真空条件下,极紫外光源1发出极紫外光束经过精密刻画的金属栅网7后,打到反射镜3和4,最后经过待测极紫外成像光学系统5在极紫外相机6上成像,金属栅网的网格尺度与所成的像进行比较,经过计算即可得到待测光学系统的分辨率数据。本发明的有益效果为:提供了一种结构简单、性能可靠能够对极紫外成像光学仪器成像质量进行测试的装置。 | ||
搜索关键词: | 一种 nm 100 波段 紫外 成像 光学仪器 质量 测试 装置 | ||
【主权项】:
1.一种6nm-100nm波段极紫外成像光学仪器成像质量测试装置,光源(1)产生的平行光通过鉴别率板(2)后经反射镜(3)和(4),最后经过待检成像系统(5)在探测器(6)上成像,根据所成影像中鉴别率板的线对的清晰程度,经过计算既可得到待检成像光学系统的分辨率数据,其特征是:所述鉴别率板(2)是精密刻画的金属栅网(7)。
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