[发明专利]一种串行接口电路的测试方法和系统无效
| 申请号： | 200610161752.1 | 申请日： | 2006-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN1975690A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 刘子熹 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王琦;王诚华 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种串行接口电路的测试方法，包括如下步骤：A.在串行接口电路中，设置至少一条附加数据通路；B.测试所设置的附加数据通路的正确性，根据测试结果判断串行接口电路中发生故障的位置。本发明还公开了一种串行接口电路的测试系统，包括待测试的串行接口电路的器件以及由所述器件组成的发送通路和接收通路，以及至少一条由所述串行接口电路的部分器件构成的附加数据通路。本发明在原有串行接口电路的基础上，增加少量逻辑电路，使得原有的各自独立的两条数据通路彼此相互关联，并分解出多个新的数据通路，通过比较这些数据通路传递的信号，可以快速判断出发生故障电路的位置，从而极大提高测试串行接口电路的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 串行 接口 电路 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种串行接口电路的测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：A、在串行接口电路中，设置至少一条附加数据通路；B、测试所设置的附加数据通路的正确性，根据测试结果判断串行接口电路中发生故障的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中星微电子有限公司，未经北京中星微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610161752.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：光通信网络中光路的可行性
- 下一篇：咖啡机煮水器的加热过程
