[发明专利]粒径分布测定装置有效
| 申请号： | 200610151709.7 | 申请日： | 2006-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN1924554A | 公开（公告）日： | 2007-03-07 |
| 发明（设计）人： | 东川喜昭;北村裕之;清水猛 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/17 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 | 代理人： | 黄依文 |
| 地址： | 日本国京都府京*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 信息处理机构(4)包括：积分部(43)，其以互相不同的2个时间对从光检测器(24)输出的光强度信号表示的光强度进行积分并分别输出各积分值，而所述光检测器(24)用于分别对光照射在试料粉粒体(S)上生成的散射光及透过光的强度进行检测；致动器控制部(44)，其为了使从积分部(43)输出的一个光强度积分值接近预定的设定值，生成并输出对于使试料收容体的试料粉粒体(S)落下的振动致动器(32)的控制信号；和粒径分布计算部(45)，其基于从积分部(43)输出的另一个光强度积分值计算出试料粉粒体(S)的粒径分布。 | ||
| 搜索关键词： | 粒径 分布 测定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种粒径分布测定装置，其特征在于，包括：收容试料粉粒体的试料收容体；通过使该试料收容体振动使试料粉粒体从该试料收容体落下的振动致动器；对落下的试料粉粒体照射光的光源；对该光照射在试料粉粒体上生成的散射光及/或透过光的强度进行检测并作为光强度信号输出的光检测器；和根据所述光强度控制所述振动致动器，同时计算试料粉粒体的粒径分布的信息处理机构，所述信息处理机构包括：积分部，其以互相不同的2个时间对所述光强度信号表示的光强度进行积分，并分别输出各积分值；致动器控制部，其为了使从所述积分部输出的一个光强度积分值接近预定的设定值而生成并输出对所述振动致动器的控制信号；和粒径分布计算部，其根据从所述积分部输出的另一个光强度积分值计算出试料粉粒体的粒径分布。
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