[发明专利]用于X射线装置的方法

摘要

本发明涉及一种用于确定图像区域(1)中作为对象(4)中的物质(2；3)的均匀性度量的特征参数H的方法，以及一种在采用特征参数H作为附加分割准则的图像中分割出物质(2；3)的方法，其中针对X射线的两个不同能量E1，E2采集至少两幅X射线图像(5，6)，在图像区域(1)中由衰减值Di(E1)，Di(E2)的统计分布确定特征参数H，其中i＝1，...N，从而可以简单方式避免分割时的错误分类(7)。

主权项

1.一种用于为X射线装置在图像区域(1)中确定作为对象(4)中物质的均匀性度量的特征参数H的方法，其中，a)针对X射线的至少两种不同能量E1、E2采集两幅具有衰减值Di(E1)、Di(E2)，i＝1，…N的X射线图像(5，6)，这些衰减值表示X射线穿过对象(4)的衰减，b)在该图像区域(1)中，从针对X射线的第一能量E1采集的X射线图像(5)的衰减值Di(E1)和针对X射线的第二能量E2采集的X射线图像(6)的衰减值Di(E2)中为对应的图像元素Di形成测量值对(D1(E1)，D1(E2))，…，(DN(E1)，DN(E2))，c)通过分析这些测量值对(D1(E1)，D1(E2))，…，(DN(E1)，DN(E2))在该图像区域(1)中的统计分布来确定作为该对象(4)的物质的均匀性度量的特征参数H。