[发明专利]具有结构化表面的单轴取向制品无效

专利信息
申请号: 200580044277.3 申请日: 2005-12-15
公开(公告)号: CN101088034A 公开(公告)日: 2007-12-12
发明(设计)人: 罗尔夫·W·比尔纳特;奥勒斯特尔·小本森;安德鲁·J·欧德科克;威廉·W·梅里尔;大卫·A·科维茨;凯瑟琳·P·塔尔诺夫斯基;罗伯特·L·布劳特 申请(专利权)人: 3M创新有限公司
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30;B29C55/04
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 丁业平;张天舒
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本申请描述一种具有结构化表面的单轴取向的制品。该制品具有如下尺寸关系:(a)本体的厚度(Z′)与几何特征物的高度(P′)之比为至少大约2;或者(b)本体的厚度与特征物的高度之比(Z′∶P′)为至少大约1,并且特征物的高度与特征物的间距之比(P′∶FS′)为至少大约1;或者(c)本体的厚度与特征物的高度之比(Z′∶P′)为至少大约1,并且特征物的底宽与特征物的间距之比(BW′∶FS′)为至少大约1;或者(d)本体的厚度与特征物的底宽之比(Z′∶BW′)为至少大约3;或者(e)本体的厚度与特征物的底宽之比(Z′∶BW′)为至少大约1,并且特征物的高度与特征物的间距(P′∶FS′)为至少大约1;或者(f)本体的厚度与特征物的底宽之比(Z′∶BW′)为至少大约1,并且特征物的底宽与特征物的间距之比(BW′∶FS′)为至少大约1;或者(g)特征物的底宽与特征物的顶宽之比(BW′∶TW′)为至少大约2,并且特征物的底宽与特征物的间距之比(BW′∶FS′)为至少大约1。
搜索关键词: 具有 结构 表面 取向 制品
【主权项】:
1.一种单轴取向的结构化制品,该制品包括:(a)聚合物本体,其具有(i)第一表面和第二表面,以及(ii)第一面内轴、第二面内轴和第三轴,其中所述第一面内轴和所述第二面内轴互相垂直,所述第三轴在所述聚合物薄膜的厚度方向上、并且分别与所述第一面内轴和所述第二面内轴互相垂直;和(b)表面部分,其具有线型几何特征物,该线型几何特征物设置在所述聚合物本体的所述第一表面上,并且该线型几何特征物沿着大体上与所述聚合物薄膜的所述第一面内轴平行的方向被设置在所述本体上;其中所述聚合物本体的厚度与所述的几何特征物的高度之比为至少约2。
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