[发明专利]用于测量由样本在光信号中引起的相位偏移的方法和设备

摘要

用于测量在光信号中引起的相位偏移的设备具有：第一光源，用于沿着包括例如荧光样本的样本的测量光径发射光信号；以及第二光源，用于沿着伪测量光径发射光信号。提供了测量电子电路，用于接收这些光信号，并且提供在时间上分离的、表示相应光信号的相位的输出。在使用时，由荧光样本在测量光径的光中引起相位偏移。提供了参考电子电路，用于接收表示由第一和第二光源发射的光信号的相位的信号。提供了电路，用于在第一光源的操作期间比较从这两个电路输出的光的相应相位，以提供表示第一测量相位差的输出。然后，通过在第二光源的操作期间进行类似的相位差测量并且比较这两个相位差来对该测量施加校正。

主权项

1.用于测量由样本在光信号中引起的相位偏移的设备，该设备包括：第一光源，用于沿着测量光径发射光信号，其中测量光径包括样本位置；第二光源，用于沿着伪测量光径发射光信号，第一和第二光源被布置成交替操作；测量电子电路，用于接收来自测量和伪测量光径的光信号，该测量电子电路被布置成提供在时间上分离的输出，其分别表示从测量和伪测量光径中的每个接收的光信号的相位，其中在使用时，由在所述样本位置的样本在测量光径中的光内引起相位偏移，使得从测量光径接收的第一光源的光的相位不同于从第一光源发射的光的相位；参考电子电路，用于接收表示由第一和第二光源发射的光信号的相位的信号；用于将由响应于第一光源的测量电子电路的输出表示的光相位与由参考电子电路表示的光相位进行比较，以提供表示第一测量相位差的输出，并且将由响应于第二光源的测量电子电路的输出表示的光相位与由参考电子电路表示的光相位进行比较，以提供表示第二测量相位差的输出的电路，以及基于第二测量相位差而对第一测量相位差施加校正，以校正由于由所述测量和参考电子电路引起的相位变化所导致的所述第一测量相位差的误差，以便获得由样本在第一光源的光中引起的相位偏移的改进测量的电路。