[发明专利]全光谱、双CMOS线性成像传感器检测装置及其检测方法无效
申请号: | 200510014271.3 | 申请日: | 2005-06-30 |
公开(公告)号: | CN1888833A | 公开(公告)日: | 2007-01-03 |
发明(设计)人: | 王勤海 | 申请(专利权)人: | 天津麦索特科技发展有限公司 |
主分类号: | G01J3/50 | 分类号: | G01J3/50;G01J3/28 |
代理公司: | 国嘉律师事务所 | 代理人: | 卢枫 |
地址: | 300060*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种全光谱、双CMOS线性成像传感器检测装置及检测方法,其特征在于它是光学成像镜头、三膜系分光棱镜,双高速线阵CMOS成像传感器组成的光学成像系统;检测方法是由①光学镜头对目标成像;②由直角分光棱镜滤除红外光谱;③按照棱镜分光比T/R分离出平衡的两束光谱:④由两个CMOS传感器分别进行光电转换;⑤给出目标亮度信号L和颜色饱和度信号S;⑥实现对目标色变的识别。本发明的优越性在于:采用颜色饱和度指标S检测替代普通色选机单一蓝光谱(B)信号强弱指标的检测,更加符合人的视觉对颜色的识别习惯,能更加准确地反映目标的颜色特征,提高设备的识别能力;结构简单,使用方便,具有高性价比。 | ||
搜索关键词: | 光谱 cmos 线性 成像 传感器 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
1、一种全光谱、双CMOS线性成像传感器检测装置,其特征在于它是光学成像镜头、三膜系分光棱镜,双高速线阵CMOS成像传感器组成的光学成像系统,所说的光学成像镜头与三膜系分光棱镜处于同一光轴水平位置,双高速线阵CMOS成像传感器I和II处于相互垂直的两个成像平面上;所说的三膜系分光棱镜的入射平面上有红外截止膜,三膜系分光棱镜的入射斜面上有宽带分光介质膜,CMOS成像传感器I对应三膜系分光棱镜的反蓝透红绿介质膜,CMOS成像传感器II对应三膜系分光棱镜的透蓝反红绿介质膜。
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