[发明专利]用于分析塑料的X射线分析仪有效
申请号: | 200410085519.0 | 申请日: | 2004-09-03 |
公开(公告)号: | CN1624463A | 公开(公告)日: | 2005-06-08 |
发明(设计)人: | 长谷川清 | 申请(专利权)人: | 精工电子纳米科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;叶恺东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于当分析塑料中的金属浓度时,减少塑料中氯的影响。在X射线分析仪中,包括X射线产生部件,用于将初级X射线照射到样品上,以及X射线探测器,用于检测来自样品的X射线,来自X射线产生部件的初级X射线照射到塑料样品上,由X射线探测器获得来自塑料样品的氯的X射线强度,并且初级X射线被塑料样品散射的散射X射线强度也由X射线探测器获取。提供氯的X射线强度比计算装置,用于将氯的X射线强度除以散射的X射线强度以计算氯的X射线强度比。计算出的氯的X射线强度比和塑料样品中氯的浓度正相关。提供相对氯浓度计算装置,用于从氯的X射线强度比中计算塑料样品中的相对氯浓度。 | ||
搜索关键词: | 用于 分析 塑料 射线 | ||
【主权项】:
1.一种X射线分析仪,包括:X射线产生器,用于将初级X射线照射到塑料样品上;以及X射线探测器,用于检测来自塑料样品的X射线,该X射线分析仪进一步包括:从X射线探测器获得的X射线强度中将氯的X射线强度与散射的X射线强度进行分离的装置;氯的X射线强度比计算装置,用于通过将分离的氯的X射线强度除以分离的散射的X射线强度来计算氯的X射线强度比;以及相对氯浓度计算装置,用于通过将计算出的氯的X射线强度比与具有已知预先确定的氯浓度的塑料参考样品中氯的X射线强度比进行比较来计算塑料样品中的氯浓度。
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