[发明专利]大型客体无损断层成像检测系统无效
申请号: | 01101886.0 | 申请日: | 2001-02-13 |
公开(公告)号: | CN1156688C | 公开(公告)日: | 2004-07-07 |
发明(设计)人: | 张英平;周化十;李联琮 | 申请(专利权)人: | 北京一体通探测技术有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 101300北京市顺义区*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种大型客体无损断层成像检测系统,该系统由射线源、准直狭缝、准直器、透射线探测器和散射线探测器组成。所述的射线源可以是x射线源,也可以是γ射线源。所述的散射线探测器由分别位于大型客体的前、后、上部的前散射线探测器、后散射线探测器和上散射线探测器组成。该无损断层成像检测系统可同时获得大型客体的散射图像和透射图像,是一种成像清晰、可对大型客体的任意断面进行无损断层成像的检测系统。 | ||
搜索关键词: | 大型 客体 无损 断层 成像 检测 系统 | ||
【主权项】:
1.一种大型客体无损断层成像检测系统,由射线源、准直狭缝、准直器、透射线探测器和散射线探测器组成,其特征在于:它包括一个射线源(1)、两个准直狭缝(2、7)、一列带狭缝式或格子式准直器的透射线探测器(3)、一列带格子式准直器的前散射线探测器(4)、一列带格子式准直器的上散射线探测器(5)、一列带格子式准直器的后散射线探测器(6),准直狭缝(2、7)位于射线源(1)和大型客体(8)之间,射线源(1)发出的射线经准直狭缝(2、7)后准直成扇形射线束,透射线探测器(3)进行透射成像,分别安装在大型客体前、后、上方的前散射线探测器(4)、后散射线探测器(6)和上散射线探测器(5)进行散射断层成像,三列散射线探测器既可以沿大型客体长度方向移动,也可以绕自身轴转动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京一体通探测技术有限公司,未经北京一体通探测技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01101886.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:石墨炉自动进样器的自动排气泡装置
- 下一篇:一种改进的薄层核子密度计